Author |
Records |
Cole, B.E.; Batty, W.; Singleton, J.; Chamberlain, J.M.; Li, L.; van Bockstal, L.; Imanaka, Y.; Shimamoto, Y.; Miura, N.; Peeters, F.M.; Henini, M.; Cheng, T. |
1 |
Pogosov, W.V.; Misko, V.R.; Zhao, H.J.; Peeters, F.M. |
1 |
Bogaerts, A.; Gijbels, R.; Carman, R.J. |
1 |
Nistor, L.C.; van Landuyt, J.; Barton, J.D.; Hole, D.E.; Skelland, N.D.; Townsend, P.D. |
1 |
Schütte, K.; Doddi, A.; Kroll, C.; Meyer, H.; Wiktor, C.; Gemel, C.; Van Tendeloo, G.; Fischer, R.A.; Janiak, C. |
1 |
Jembrih-Simbürger, D.; Neelmeijer, C.; Schalm, O.; Fredrickx, P.; Schreiner, M.; De Vis, K.; Mäder, M.; Schryvers, D.; Caen, J. |
1 |
Wahl, A.; Hervieu, M.; Van Tendeloo, G.; Hardy, V.; Provost, J.; Groult, D.; Simon, C.; Raveau, B. |
1 |
Delamare, M.P.; Hervieu, M.; Wang, J.; Provost, J.; Monot, I.; Verbist, K.; Van Tendeloo, G. |
1 |
Oleshko, V.P.; Gijbels, R.H.; van Daele, A.J.; Jacob, W.A.; Xu, Y.-E.; Wang, S.-E.; Park, I.-Y.; Kang, T.-S. |
1 |
Oleshko, V.P.; Gijbels, R.; Jacob, W. |
1 |
Eckert, M. |
1 |
Wendelen, W.; Dzhurakhalov, A.A.; Peeters, F.M.; Bogaerts, A. |
1 |
Beyers, E.; Biermans, E.; Ribbens, S.; de Witte, K.; Mertens, M.; Meynen, V.; Bals, S.; Van Tendeloo, G.; Vansant, E.F.; Cool, P. |
1 |
Carrillo Nuñez, H. |
1 |
Prodi, A.; Daoud-Aladine, A.; Gozzo, F.; Schmitt, B.; Lebedev, O.; Van Tendeloo, G.; Gilioli, E.; Bolzoni, F.; Aruga-Katori, H.; Takagi, H.; Marezio, M.; Gauzzi, A.; |
1 |
Cenian, A.; Chernukho, A.; Bogaerts, A.; Gijbels, R. |
1 |
Schattschneider, P.; Löffler, S.; Verbeeck, J. |
1 |
Hadermann, J.; Abakumov, A.M.; Van Rompaey, S.; Mankevich, A.S.; Korsakov, I.E. |
1 |
Silhanek, A.V.; van de Vondel, J.; Moshchalkov, V.V.; Metlushko, V.; Ilic, B.; Misko, V.R.; Peeters, F.M. |
1 |
Pape, E.; Bezerra, T.N.; Vanneste, H.; Heeschen, K.; Moodley, L.; Leroux, F.; van Breugel, P.; Vanreusel, A. |
1 |
Fomin, V.M.; Misko, V.R.; Devreese, J.T.; Brongersma, H.H. |
1 |
Jenett, H.; Grallath, E.; Riedel, R.; Strecker, K.; Gijbels, R.; Kennis, P. |
1 |
Gordon, I.; Wagner, P.; Das, A.; Vanacken, J.; Moshchalkov, V.V.; Bruynseraede, Y.; Schuddinck, W.; Van Tendeloo, G.; Ziese, M.; Borghs, G. |
1 |
Buschmann, V.; Schryvers, D.; van Landuyt, J.; van Roost, C.; de Keyzer, R. |
1 |
Hoon Park, J.; Kumar, N.; Hoon Park, D.; Yusupov, M.; Neyts, E.C.; Verlackt, C.C.W.; Bogaerts, A.; Ho Kang, M.; Sup Uhm, H.; Ha Choi, E.; Attri, P.; |
1 |
Khan, A.W.; Jan, F.; Saeed, A.; Zaka-ul-Islam, M.; Abrar, M.; Khattak, N.A.D.; Zakaullah, M. |
1 |
Vantomme, A.; Wu, M.F.; Hogg, S.; van Landuyt, J.; et al. |
1 |
Ivanov, V.; Proshina, O.; Rakhimova, T.; Rakhimov, A.; Herrebout, D.; Bogaerts, A. |
1 |
Lubyshev, D.; Fastenau, J.M.; Fang, X.-M.; Wu, Y.; Doss, C.; Snyder, A.; Liu, W.K.; Lamb, M.S.M.; Bals, S.; Song, C. |
1 |
Bogaerts, A.; Donko, Z.; Kutasi, K.; Bano, G.; Pinhao, N.; Pinheiro, M. |
1 |