Zanaga, D.; Bleichrodt, F.; Altantzis, T.; Winckelmans, N.; Palenstijn, W.J.; Sijbers, J.; de Nijs, B.; van Huis, M.A.; Sanchez-Iglesias, A.; Liz-Marzan, L.M.; van Blaaderen, A.; Joost Batenburg, K.; Bals, S.; Van Tendeloo, G. |
Quantitative 3D analysis of huge nanoparticle assemblies |
2016 |
Nanoscale |
8 |
34 |
UA library record; WoS full record; WoS citing articles |